1. Electrical overstress (EOS) :
پدیدآورنده: Steven H. Voldman
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Overvoltage.,Semiconductors-- Failures.,Semiconductors-- Protection.,Transients (Electricity)
رده :
TK7871
.
852
2. Electromigration and electronic device degradation
پدیدآورنده: / edited by Aris Christou
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Deterioration,Semiconductors - Failures,Electrodiffusion
رده :
TK
7874
.
E477
1994
3. Failure analysis of integrated circuits :tools and techniques
پدیدآورنده: edited by Lawrence C. Wagner
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع: Failures ، Semiconductors,Testing ، Integrated circuits,Reliability ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999
4. Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques
پدیدآورنده: edited by Lawrence C. Wagner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Semiconductors - Failures , Integrated circuits - Testing , Integrated circuits - Reliability
رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999
5. Failure mechanisms in semiconductor devices
پدیدآورنده: / E.A. Amerasekera and D.S. Campbell
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Semiconductors - Failures
رده :
TK
7871
.
85
.
A49
1987
6. Failure mechanisms in semiconductor devices
پدیدآورنده: Amerasekera, E.A.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Failures ، Semiconductors
رده :
TK
7871
.
85
.
A49
1987
7. Failure mechanisms in semiconductor devices
پدیدآورنده: Amerasekera, E. A.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع: ، Semiconductors - Failures
رده :
TK
7871
.
852
.
A47
1997
8. Failure mechnaisms in semiconductor devices
پدیدآورنده: / E. A. Amerasekera and D. S. Campbell
کتابخانه: کتابخانه دانشکدگان فنی 1 دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Semiconductors - Failures
رده :
TK
7871
.
85
.
A4
9. Failure mechanisms in semiconductor devices
پدیدآورنده: Amerasekera, E. A
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Semiconductors-- Failures
رده :
TK
7871
.
85
.
A49
1987
10. Failure mechnaisms in semiconductor devices
پدیدآورنده: / E. A. Amerasekera and D. S. Campbell
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Semiconductors - Failures
رده :
TK
7871
.
85
.
A4
11. Failure modes and mechanisms in electronic packages
پدیدآورنده: Viswnadham, Puligandla
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Electrical packaging-- Defects,، Semiconductors-- Failures
رده :
TK
7870
.
15
.
V57
1997
12. Failure modes and mechanisms in electronic packages
پدیدآورنده: Viswanadham, Puligandla.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Defects ، Electronic packaging,Failures ، Semiconductors
رده :
TK
7870
.
15
.
V57
1998
13. Integrated circuit failure analysis: a guide to preparation techniques
پدیدآورنده: Beck, Friedrich
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع: ، Semiconductors- Failures,، Semiconductors_ Testing
رده :
TK
7871
.
852
.
B43
14. Reliability and degradation of III-V optical devices
پدیدآورنده: Ueda, Osamu
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Gallium arsenide semiconductors - Reliability , Semiconductors - Failures , Light emitting diodes - Reliability , Crystals - Defects
رده :
TK
7871
.
85
.
U33
1996
15. Reliability and degradation of III-V optical devices
پدیدآورنده: / Osamu Ueda
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Gallium aresnide semiconductors - Reliability,Semiconductors - Failures,Light emitting diodes - Reliability,Crystals - Defects
رده :
TK
7871
.
85
.
U33
1996
16. #Semiconductor device and failue analysis
پدیدآورنده: #Wai Kin Chim
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (اصفهان)
موضوع: Semiconductors- Failures ،Semiconductors- Testing ،Semiconductors- Microscopy ،Photon emission
رده :
#
TK
،#.
C47
17. Semiconductor device and failure analysis using photon emission microscopy
پدیدآورنده: / Wai Kin Chim
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Semiconductors - Failures,Semiconductors - Testing,Semiconductors - Microscopy,Photon emission
رده :
TK781
.
852
.
C47
2000
18. Semiconductor device and failure analysis using photon microscopy
پدیدآورنده: / by Wai Kin Chim
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Semiconductors- Failures,Semiconductors- Testing,Semiconductors- Microscopy,Photon emission
رده :
TK7871
.
85
.
C47
2000
19. The role of microscopy in semiconductor failure analysis
پدیدآورنده: / B.P. Richards and P.K. Footner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه اراک (مرکزی)
موضوع: Semiconductors-- Testings,Semiconductors- Failures,Microscops and microscopy
رده :
621
.
381520287
R514r
20. The role of microscopy in semiconductor failure analysis
پدیدآورنده: Richards, B. P.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Semiconductors - Testing , Semiconductors - Failures , Microscopes
رده :
TK
7871
.
85
.
R464
